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                    高低温试验箱
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                    低温试验箱的概述

                    时间:2012/8/31 7:57:30
                     

                    低温试验箱适用于非散热和散热两类试验样品?己撕腿范ǖ绻、电子产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性。
                    低温试验方法分为以下三类
                    非散热试验样品低温试验:--试验Aa:温度突变
                    --试验Ab:温度渐变
                    散热试验样品低温试验:  --试验Ad:温度渐变
                    低温试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算。
                    相关规范应规定:
                    a)试验箱内温度变化速率;
                    b)试验样品放入试验箱的时间;
                    c)试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间;
                    d)试验样品通电或加负载的时间。
                    在这些条件下,相关规范的制定者可根据GB/T 2424.1-1989导则选定以上4个参数(以上条件下的修订正在考虑之中)

                     
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                    GB 7000.1-2007IEC 6
                    GB 7000.1-2007IEC 6
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